直讀光譜儀核心原理：從電火花激發(fā)到全譜分析的技術(shù)突破
2025-09-24
直讀光譜儀的核心原理在于將待測(cè)樣品中的原子激發(fā)，并通過(guò)對(duì)特征光譜的定性與定量分析，實(shí)現(xiàn)快速、精準(zhǔn)的元素成分測(cè)定。其技術(shù)鏈條始于“電火花激發(fā)”。在氬氣保護(hù)的激發(fā)臺(tái)上，儀器在樣品（作為電極之一）與分析間隙之間施加高壓脈沖，產(chǎn)生瞬時(shí)高溫等離子體（電火花）。樣品表面微量物質(zhì)被氣化并原子化，原子外層電子獲得能量躍遷至不穩(wěn)定的高能級(jí)。
當(dāng)這些激發(fā)態(tài)電子回落至低能級(jí)時(shí)，會(huì)釋放出特定波長(zhǎng)的光輻射，即元素的“特征光譜”。不同元素?fù)碛衅涞?、如?ldquo;指紋”般的光譜線(xiàn)。傳統(tǒng)技術(shù)瓶頸在于，采用光電倍增管（PMT）的譜儀只能設(shè)置有限通道測(cè)量特定元素譜線(xiàn)，靈活性差且難以應(yīng)對(duì)未知元素分析。
真正的技術(shù)突破是“全譜分析”技術(shù)的實(shí)現(xiàn)。這依賴(lài)于兩項(xiàng)關(guān)鍵革新：一是中階梯光柵與交叉色散技術(shù)的應(yīng)用。中階梯光柵提供高分辨率和高色散率，將復(fù)雜的光譜在二維平面上精細(xì)展開(kāi)；交叉色散技術(shù)則能有效分離不同級(jí)次的光譜，形成清晰的全譜二維圖譜。二是高性能面陣檢測(cè)器（如CCD或CMOS）的引入。該探測(cè)器能夠同時(shí)接收并數(shù)字化整個(gè)波長(zhǎng)范圍內(nèi)的全部光譜信息，一次性捕獲從紫外到可見(jiàn)光區(qū)的所有譜線(xiàn)。
這一突破使得直讀光譜儀實(shí)現(xiàn)了從“管測(cè)”到“全譜”的飛躍。它不僅保留了傳統(tǒng)直讀光譜速度快、精度高的優(yōu)點(diǎn)，更具備了分析元素靈活（可根據(jù)軟件選擇分析線(xiàn)）、儀器結(jié)構(gòu)緊湊、穩(wěn)定性更高以及后期升級(jí)便捷（通過(guò)軟件增加分析元素）的巨大優(yōu)勢(shì)。因此，全譜直讀光譜技術(shù)標(biāo)志著現(xiàn)代元素分析進(jìn)入了一個(gè)更強(qiáng)大、更智能的新時(shí)代，成為冶金、鑄造、質(zhì)檢等領(lǐng)域的利器。
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